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兩槽式?jīng)_擊箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

兩箱式?jīng)_擊測(cè)試儀,沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于電子元器件的安全性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。 ·設(shè)備符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5GJB1217-91等標(biāo)準(zhǔn)的要求。

兩箱式冷熱沖擊測(cè)試機(jī)適用于對(duì)電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性。產(chǎn)品參照標(biāo)準(zhǔn)GB10589《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。(具體性能參數(shù)以技術(shù)協(xié)議為準(zhǔn)。)

兩箱式冷熱沖擊機(jī)適用于對(duì)電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性。產(chǎn)品參照標(biāo)準(zhǔn)GB10589《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。(具體性能參數(shù)以技術(shù)協(xié)議為準(zhǔn)。)

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于對(duì)電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進(jìn)行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性。產(chǎn)品參照標(biāo)準(zhǔn)GB10589《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。(具體性能參數(shù)以技術(shù)協(xié)議為準(zhǔn)。)

蓄熱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用來(lái)測(cè)試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)，在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫在連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、塑料、橡膠、電子等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)呂的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。 用于檢測(cè)電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技、LED半導(dǎo)體、零部件等產(chǎn)品在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力。